En el caso de circuitos digitales, esto puede causar resultados inexactos o ininteligibles.
Los efectos que el usuario puede observar pueden ser organizados en varios grupos: Los efectos de evento simple (SEE), que afectan mayoritariamente a los dispositivos digitales, no han sido profundamente estudiados hasta hace relativamente poco tiempo.
Esta ionización puede causar un efecto altamente localizado similar a los transitivos -un fallo benigno a la salida, el cambio de un bit en memoria o en un registro o, especialmente en transistores de alta potencia, un latchup destructivo que incendia el dispositivo.
Además, los rayos de protones exponen a los dispositivos al riesgo de un fallo por ionización total (TID) que puede enturbiar los resultados del ensayo o provocar un fallo prematuro del dispositivo.
Estas aplicaciones deben incluir: En Telecomunicaciones, el término dureza nuclear tiene los siguientes significados: Ver también: Comparativa de sistemas embebidos en los Mars Rovers