Lista de métodos de análisis de materiales

Esta es una lista de métodos de análisis utilizados en la ciencia de los materiales . Los métodos de análisis se enumeran por su acrónimo, si existe.

Símbolos

• μSR – ver espectroscopia de espín de muones
• χ – ver susceptibilidad magnética

A

• AAS – Espectroscopia de absorción atómica
• AED – Difracción de electrones Auger
• AES – Espectroscopia electrónica Auger
• AFM – Microscopía de fuerza atómica
• AFS – Espectroscopia de fluorescencia atómica
• Ultracentrifugación analítica
• APFIM – Microscopía de iones de campo con sonda atómica
• APS – Espectroscopia de potencial de apariencia
• ARPES – Espectroscopia de fotoemisión con resolución angular
• ARUPS – Espectroscopia de fotoemisión ultravioleta con resolución angular
• ATR – Reflectancia total atenuada

B

• BET – Medición de superficie BET (BET de Brunauer, Emmett, Teller)
• BiFC – Complementación de fluorescencia bimolecular
• BKD – Difracción de Kikuchi por retrodispersión, véase EBSD
• BRET – Transferencia de energía por resonancia de bioluminiscencia
• BSED – Difracción de electrones retrodispersados, véase EBSD

do

• CAICISS – Espectroscopia de dispersión de iones por colisión de impacto coaxial
• CARS – Espectroscopia Raman anti-Stokes coherente
• CBED – Difracción de electrones por haz convergente
• CCM – Microscopía de recolección de carga
• CDI – Imágenes de difracción coherente
• CE – Electroforesis capilar
• CET – Tomografía crioelectrónica
• CL – Catodoluminiscencia
• CLSM – Microscopía láser de barrido confocal
• COSY – Espectroscopia de correlación
• Cryo-EM – Microscopía crioelectrónica
• Cryo-SEM – Microscopía electrónica de barrido criogénico
• CV – Voltamperometría cíclica

D

• DE(T)A – Análisis térmico dieléctrico
• dHvA – Efecto De Haas-van Alphen
• DIC – Microscopía de contraste de interferencia diferencial
• Espectroscopia dieléctrica
• DLS – Dispersión dinámica de luz
• DLTS – Espectroscopia transitoria de nivel profundo
• DMA – Análisis mecánico dinámico
• DPI – Interferometría de polarización dual
• DRS – Espectroscopia de reflexión difusa
• DSC – Calorimetría diferencial de barrido
• DTA – Análisis térmico diferencial
• DVS – Sorción dinámica de vapor

mi

• EBIC – Corriente inducida por haz de electrones (ver IBIC: carga inducida por haz de iones)
• EBS – Espectrometría de retrodispersión elástica (no Rutherford) (ver RBS )
• EBSD – Difracción por retrodispersión de electrones
• ECOSY – Espectroscopia de correlación exclusiva
• ECT – Tomografía de capacitancia eléctrica
• EDAX – Análisis de rayos X por dispersión de energía
• EDMR – Resonancia magnética detectada eléctricamente , véase ESR o EPR
• EDS o EDX – Espectroscopia de rayos X por dispersión de energía
• EELS – Espectroscopia de pérdida de energía de electrones
• EFTEM – Microscopía electrónica de transmisión con filtrado de energía
• EID – Desorción inducida por electrones
• EIT y ERT – Tomografía de impedancia eléctrica y tomografía de resistividad eléctrica
• EL – Electroluminiscencia
• Cristalografía electrónica
• ELS – Dispersión de luz electroforética
• ENDOR – Doble resonancia nuclear electrónica , véase ESR o EPR
• EPMA – Microanálisis con sonda electrónica
• EPR – Espectroscopia de resonancia paramagnética electrónica
• ERD o ERDA: detección de retroceso elástico o análisis de detección de retroceso elástico
• ESCA – Espectroscopia electrónica para análisis químico, ver XPS
• ESD – Desorción estimulada por electrones
• ESEM – Microscopía electrónica de barrido ambiental
• ESI-MS o ES-MS – Espectrometría de masas por ionización por electrospray o espectrometría de masas por electrospray
• ESR – Espectroscopia de resonancia de espín electrónico
• ESTM – Microscopía electroquímica de efecto túnel
• EXAFS – Estructura fina de absorción de rayos X extendida
• EXSY – Espectroscopia de intercambio

F

• FCS – Espectroscopia de correlación de fluorescencia
• FCCS – Espectroscopia de correlación cruzada de fluorescencia
• FEM – Microscopía de emisión de campo
• FIB – Microscopía de haz de iones enfocado
• FIM-AP – Microscopía de iones de campo – sonda atómica
• Birrefringencia de flujo
• Anisotropía de fluorescencia
• FLIM – Imágenes de fluorescencia durante toda su vida útil
• Microscopía de fluorescencia
• FOSPM – Microscopía de sonda de barrido orientada a características
• FRET – Transferencia de energía por resonancia de fluorescencia
• FRS – Espectrometría de retroceso hacia adelante, un sinónimo de ERD
• FTICR o FT-MS: resonancia ciclotrónica iónica por transformada de Fourier o espectrometría de masas por transformada de Fourier
• FTIR – Espectroscopia infrarroja por transformada de Fourier

GRAMO

• GC-MS – Cromatografía de gases-espectrometría de masas
• GDMS – Espectrometría de masas por descarga luminiscente
• GDOS – Espectroscopia óptica de descarga luminiscente
• GISAXS – Dispersión de rayos X de ángulo pequeño con incidencia rasante
• GIXD – Difracción de rayos X con incidencia rasante
• GIXR – Reflectividad de rayos X con incidencia rasante
• GLC – Cromatografía de gas-líquido
• GPC – Cromatografía de permeación en gel

yo

• HAADF – Imágenes de campo oscuro anular de ángulo alto
• HAS – Dispersión de átomos de helio
• HPLC – Cromatografía líquida de alto rendimiento
• HREELS – Espectroscopia de pérdida de energía de electrones de alta resolución
• HREM – Microscopía electrónica de alta resolución
• HRTEM – Microscopía electrónica de transmisión de alta resolución
• HI-ERDA – Análisis de detección de retroceso elástico de iones pesados
• HE-PIXE – Emisión de rayos X inducida por protones de alta energía

I

• IAES – Espectroscopia electrónica Auger inducida por iones
• IBA – Análisis de haz de iones
• IBIC – Microscopía de carga inducida por haz de iones
• ICP-AES – Espectroscopia de emisión atómica con plasma acoplado inductivamente
• ICP-MS – Espectrometría de masas con plasma acoplado inductivamente
• Inmunofluorescencia
• ICR – Resonancia ciclotrónica iónica
• IETS – Espectroscopia de efecto túnel electrónico inelástico
• IGA – Análisis gravimétrico inteligente
• IGF – Fusión de gas inerte
• IIX – Análisis de rayos X inducido por iones, véase emisión de rayos X inducida por partículas
• INS – Espectroscopia de neutralización de iones
• Dispersión inelástica de neutrones
• IRNDT – Ensayos no destructivos de materiales por infrarrojos
• IRS – Espectroscopia infrarroja
• ISS – Espectroscopia de dispersión de iones
• ITC – Calorimetría de titulación isotérmica
• IVEM – Microscopía electrónica de voltaje intermedio

yo

• LALLS – Dispersión de luz láser de ángulo bajo
• LC-MS – Cromatografía líquida-espectrometría de masas
• LEED – Difracción de electrones de baja energía
• LEEM – Microscopía electrónica de baja energía
• LEIS – Dispersión de iones de baja energía
• LIBS – Espectroscopia de ruptura inducida por láser
• LOES – Espectroscopia de emisión óptica láser
• LS – Dispersión de luz (Raman)

METRO

• MALDI – Desorción/ionización láser asistida por matriz
• MBE – Epitaxia de haz molecular
• MEIS – Dispersión de iones de energía media
• MFM – Microscopía de fuerza magnética
• MIT – Tomografía por inducción magnética
• MPM – Microscopía de fluorescencia multifotónica
• MRFM – Microscopía de fuerza por resonancia magnética
• Resonancia magnética (MRI)
• MS – Espectrometría de masas
• MS/MS – Espectrometría de masas en tándem
• MSGE – Emisión de gas estimulada mecánicamente
• Espectroscopia Mössbauer
• MTA – Análisis microtérmico

norte

• NAA – Análisis de activación neutrónica
• ND – Difracción de neutrones
• NDP – Perfil de profundidad de neutrones
• NEXAFS – Estructura fina de absorción de rayos X en el borde cercano
• NIS – Absorción/dispersión inelástica nuclear
• RMN – Espectroscopia de resonancia magnética nuclear
• NOESY – Espectroscopia de efecto Overhauser nuclear
• NRA – Análisis de reacciones nucleares
• NSOM – Microscopía óptica de campo cercano

Oh

• OBIC – Corriente inducida por haz óptico
• ODNMR – Resonancia magnética detectada ópticamente, véase ESR o EPR
• OES – Espectroscopia de emisión óptica
• Osmometría

PAG

• PAS – Espectroscopia de aniquilación de positrones
• Espectroscopia fotoacústica
• PAT o PACT – Tomografía fotoacústica o tomografía computarizada fotoacústica
• PAX – Fotoemisión de xenón adsorbido
• PC o PCS – Espectroscopia de fotocorriente
• Microscopía de contraste de fases
• Doctorado – Difracción de fotoelectrones
• PD – Fotodesorción
• PDEIS – Espectroscopia de impedancia electroquímica potenciodinámica
• PDS – Espectroscopia de deflexión fototérmica
• PED – Difracción de fotoelectrones
• PEELS – espectroscopia de pérdida de energía de electrones paralelos
• PEEM – Microscopía electrónica de fotoemisión (o microscopía de emisión fotoelectrónica)
• PES – Espectroscopia fotoelectrónica
• PINEM – microscopía electrónica de campo cercano inducida por fotones
• PIGE – Espectroscopia de rayos gamma inducida por partículas (o protones), véase análisis de reacción nuclear
• PIXE – Espectroscopia de rayos X inducida por partículas (o protones)
• PL – Fotoluminiscencia
• Porosimetría
• Difracción de polvo
• PTMS – Microespectroscopia fototérmica
• PTS – Espectroscopia fototérmica

Q

• QENS – Dispersión de neutrones cuasielástica
• QCM-D – Microbalanza de cristal de cuarzo con control de disipación

R

• Espectroscopia Raman
• RAXRS – Dispersión anómala resonante de rayos X
• RBS – Espectrometría de retrodispersión de Rutherford
• REM – Microscopía electrónica de reflexión
• RDS – Espectroscopia de diferencia de reflectancia
• RHEED – Difracción de electrones de alta energía por reflexión
• RIMS – Espectrometría de masas por ionización por resonancia
• RIXS – Dispersión inelástica resonante de rayos X
• Espectroscopia RR – Espectroscopia Raman de resonancia

S

• SAD – Difracción de área seleccionada
• SAED – Difracción de electrones en áreas seleccionadas
• SAM – Microscopía de barrido Auger
• SANS – Dispersión de neutrones de ángulo pequeño
• SAXS – Dispersión de rayos X de ángulo pequeño
• SCANIIR – Composición de superficies mediante análisis de especies neutras y radiación de impacto iónico
• SCEM – Microscopía electrónica confocal de barrido
• SE – Elipsometría espectroscópica
• SEC – Cromatografía de exclusión por tamaño
• SEIRA – Espectroscopia de absorción infrarroja mejorada en superficie
• SEM – Microscopía electrónica de barrido
• SERS – Espectroscopia Raman mejorada por superficie
• SERRS – Espectroscopia Raman de resonancia de superficie mejorada
• SESANS – Dispersión de neutrones de ángulo pequeño por eco de espín
• SEXAFS – Estructura fina de absorción de rayos X de superficie extendida
• SICM – Microscopía de conductancia iónica de barrido
• SIL – Lente de inmersión sólida
• SIM – Espejo de inmersión sólido
• SIMS – Espectrometría de masas de iones secundarios
• SNMS – Espectrometría de masas de especies neutras por pulverización catódica
• SNOM – Microscopía óptica de barrido de campo cercano
• SPECT – Tomografía computarizada por emisión monofotónica
• SPM – Microscopía de sonda de barrido
• SRM-CE/MS – Espectrometría de masas por electroforesis capilar con monitorización de reacciones seleccionadas
• SSNMR – Resonancia magnética nuclear de estado sólido
• Espectroscopia Stark
• STED – Microscopía de depleción por emisión estimulada
• STEM – Microscopía electrónica de transmisión por barrido
• STM – Microscopía de efecto túnel de barrido
• STS – Espectroscopia de efecto túnel de barrido
• SXRD – Difracción de rayos X de superficie

yo

• TAT o TACT – Tomografía termoacústica o tomografía computarizada termoacústica (ver también tomografía fotoacústica – PAT)
• TEM – Microscopía electrónica de transmisión
• TGA – Análisis termogravimétrico
• TIKA – Análisis cinético de iones transmisores
• TIMS – Espectrometría de masas por ionización térmica
• TIRFM – Microscopía de fluorescencia de reflexión interna total
• TLS – Espectroscopia de lente fototérmica, un tipo de espectroscopia fototérmica
• TMA – Análisis termomecánico
• TOF-MS – Espectrometría de masas de tiempo de vuelo
• Microscopía de excitación de dos fotones
• TXRF – Análisis de fluorescencia de rayos X por reflexión total

tú

• Espectroscopia de atenuación por ultrasonidos
• UPS – Espectroscopia de fotoelectrones UV
• USANS – Dispersión de neutrones de ángulo ultra pequeño
• USAXS – Dispersión de rayos X de ángulo ultra pequeño
• UT – Pruebas ultrasónicas
• UV-Vis – Espectroscopia ultravioleta-visible

V

• VEDIC – Microscopía de contraste de interferencia diferencial mejorada por vídeo
• Voltamperometría

Yo

• WAXS – Dispersión de rayos X de ángulo amplio
• WDX o WDS – Espectroscopia de rayos X por dispersión de longitud de onda

incógnita

• XAES – Espectroscopia electrónica Auger inducida por rayos X
• XANES – XANES , sinónimo de NEXAFS (estructura fina de absorción de rayos X cerca del borde)
• XAS – Espectroscopia de absorción de rayos X
• X-CTR – Dispersión de rayos X por varillas de truncamiento de cristales
• Cristalografía de rayos X
• XDS – Dispersión difusa de rayos X
• XPEEM – Microscopía de emisión de fotoelectrones de rayos X
• XPS – Espectroscopia fotoelectrónica de rayos X
• XRD – Difracción de rayos X
• XRES – Dispersión de intercambio resonante de rayos X
• XRF – Análisis de fluorescencia de rayos X
• XRR – Reflectividad de rayos X
• XRS – Dispersión Raman de rayos X
• XSW – Técnica de ondas estacionarias de rayos X

Véase también

• Caracterización (ciencia de los materiales)

Referencias

• Callister, WD (2000). Ciencia e ingeniería de materiales: una introducción . Londres: John Wiley and Sons. ISBN 0-471-32013-7.
• Yao, N, ed. (2007). Sistemas de haces de iones enfocados: conceptos básicos y aplicaciones . Cambridge, Reino Unido: Cambridge University Press. ISBN 978-0-521-83199-4.