La técnica EDXRF utiliza la emisión secundaria o fluorescente de radiación X que se genera al excitar una muestra con una fuente emisora de rayos X.La radiación X incidente o primaria expulsa electrones de capas interiores del átomo.Por lo tanto, es posible identificar un elemento dentro del espectro de la muestra si se conoce la energía entre los orbitales atómicos implicados (longitud de onda).Ambos tipos presentan una serie de limitaciones que deben ser comprendidas claramente por el analista.Asimismo, requieren seguir un procedimiento apropiado, esencial si se quieren evitar serios errores.
