Goniorreflectómetro de laboratorio tradicional sin imágenes con brazos goniométricos para posicionar la fuente de luz y el detector. Muestra las etapas de muestra y cupón de calibración en una plataforma móvil.El pórtico esférico de la Universidad de Virginia , un ejemplo de un goniorreflectómetro moderno basado en imágenes
El dispositivo consta de una fuente de luz que ilumina el material que se va a medir y un sensor que capta la luz reflejada por ese material. La fuente de luz debe poder iluminar y el sensor debe poder captar datos de un hemisferio alrededor del objetivo. Las dimensiones de rotación hemisférica del sensor y la fuente de luz son las cuatro dimensiones de la BRDF. La parte "gonio" de la palabra se refiere a la capacidad del dispositivo para medir en diferentes ángulos.
Se han construido y utilizado varios dispositivos similares para capturar datos con funciones similares. La mayoría de estos dispositivos utilizan una cámara en lugar del sensor de medición de intensidad de luz para capturar una muestra bidimensional del objetivo. Algunos ejemplos son:
un gonioreflectómetro espacial para capturar el SBRDF [ aclaración necesaria ] (McAllister, 2002).
un pórtico de cámara para capturar el campo de luz (Levoy y Hanrahan, 1996).
Dana, Kristin et al. 1999. Reflectancia y textura de superficies del mundo real . en ACM Transactions on Graphics . Volumen 18, número 1 (enero de 1999). Nueva York, NY, EE. UU.: ACM Press. Páginas 1-34.
Foo, Sing Choong. 1997. Un goniorreflectómetro para medir la reflectancia bidireccional de materiales para su uso en cálculos de iluminación . Tesis de maestría. Universidad de Cornell . Ithaca, Nueva York, EE. UU.
Levoy, Marc y Hanrahan, Pat. 1996. Representación de campos de luz . En Actas de la 23.ª conferencia anual sobre gráficos por ordenador y técnicas interactivas.
McAllister, David. 2002. Una representación generalizada de la apariencia de superficies para gráficos por computadora . Tesis doctoral. Universidad de Carolina del Norte en Chapel Hill , Departamento de Ciencias de la Computación. Chapel Hill, EE. UU. 118 págs.
