Lista de métodos de análisis de materiales.

Esta es una lista de métodos de análisis utilizados en la ciencia de materiales . Los métodos de análisis se enumeran por sus siglas, si existe.

Símbolos

• μSR - ver espectroscopia de espín de muones
• χ – ver susceptibilidad magnética

A

• AAS – Espectroscopia de absorción atómica
• AED – Difracción de electrones Auger
• AES – Espectroscopía de electrones Auger
• AFM – Microscopía de fuerza atómica
• AFS – Espectroscopia de fluorescencia atómica
• Ultracentrifugación analítica
• APFIM – Microscopía iónica de campo con sonda atómica
• APS – Espectroscopia de potencial de apariencia
• ARPES – Espectroscopia de fotoemisión con resolución de ángulo
• ARUPS: espectroscopia de fotoemisión ultravioleta con resolución de ángulo
• ATR – Reflectancia total atenuada

B

• BET: medición del área de superficie BET (BET de Brunauer, Emmett, Teller)
• BiFC – Complementación de fluorescencia bimolecular
• BKD: difracción de Kikuchi por retrodispersión, ver EBSD
• BRET – Transferencia de energía por resonancia de bioluminiscencia
• BSED: difracción de electrones retrodispersados, ver EBSD

C

• CAICISS – Espectroscopia de dispersión de iones de colisión de impacto coaxial
• CARS – Espectroscopía Raman anti-Stokes coherente
• CBED – Difracción de electrones de haz convergente
• CCM – Microscopía de recogida de cargas
• CDI: imágenes de difracción coherente
• CE – Electroforesis capilar
• CET – Tomografía crioelectrónica
• CL – Catodoluminiscencia
• CLSM – Microscopía de barrido láser confocal
• COZY – Espectroscopia de correlación
• Cryo-EM – Microscopía crioelectrónica
• Cryo-SEM: microscopía electrónica de barrido criogénico
• CV – Voltametría cíclica

D

• DE(T)A – Análisis térmico dieléctrico
• dHvA – Efecto De Haas-van Alphen
• DIC – Microscopía de contraste de interferencia diferencial
• Espectroscopia dieléctrica
• DLS: dispersión dinámica de la luz
• DLTS: espectroscopia transitoria de nivel profundo
• DMA – Análisis mecánico dinámico
• DPI – Interferometría de doble polarización
• DRS – Espectroscopia de reflexión difusa
• DSC – Calorimetría diferencial de barrido
• DTA – Análisis térmico diferencial
• DVS – Sorción dinámica de vapor

mi

• EBIC: corriente inducida por haz de electrones (ver IBIC: carga inducida por haz de iones)
• EBS: espectrometría de retrodispersión elástica (no Rutherford) (ver RBS )
• EBSD – Difracción por retrodispersión de electrones
• ECOSY – Espectroscopia de correlación exclusiva
• ECT – Tomografía de capacitancia eléctrica
• EDAX – Análisis de dispersión de energía de rayos X
• EDMR: resonancia magnética detectada eléctricamente , consulte ESR o EPR
• EDS o EDX: espectroscopia de rayos X de dispersión de energía
• EELS: espectroscopia de pérdida de energía electrónica
• EFTEM – Microscopía electrónica de transmisión con filtrado de energía
• EID – Desorción inducida por electrones
• EIT y ERT – Tomografía de impedancia eléctrica y tomografía de resistividad eléctrica
• EL – Electroluminiscencia
• Cristalografía electrónica
• ELS – Dispersión de luz electroforética
• ENDOR – Doble resonancia nuclear electrónica , ver ESR o EPR
• EPMA – Microanálisis con sonda electrónica
• EPR – Espectroscopia de resonancia paramagnética electrónica
• ERD o ERDA: detección de retroceso elástico o análisis de detección de retroceso elástico
• ESCA: espectroscopía electrónica para análisis químicos, ver XPS
• ESD: desorción estimulada por electrones
• ESEM – Microscopía electrónica de barrido ambiental
• ESI-MS o ES-MS: espectrometría de masas por ionización por electropulverización o espectrometría de masas por electropulverización
• ESR: espectroscopia de resonancia de espín electrónico
• ESTM – Microscopía de efecto túnel de barrido electroquímico
• EXAFS – Estructura fina de absorción de rayos X extendida
• EXSY – Espectroscopia de intercambio

F

• FCS – Espectroscopia de correlación de fluorescencia
• FCCS: espectroscopia de correlación cruzada de fluorescencia
• FEM – Microscopía de emisión de campo
• FIB – Microscopía de haz de iones enfocado
• FIM-AP – Microscopía iónica de campo – sonda atómica
• Birrefringencia de flujo
• Anisotropía de fluorescencia
• FLIM: imágenes de por vida de fluorescencia
• Microscopio fluorescente
• FOSPM: microscopía de sonda de barrido orientada a funciones
• FRET – Transferencia de energía por resonancia de fluorescencia
• FRS – Espectrometría de retroceso directo, sinónimo de ERD
• FTICR o FT-MS: resonancia ciclotrón de iones por transformada de Fourier o espectrometría de masas por transformada de Fourier
• FTIR: espectroscopía infrarroja por transformada de Fourier

GRAMO

• GC-MS – Cromatografía de gases-espectrometría de masas
• GDMS: espectrometría de masas de descarga luminosa
• GDOS: espectroscopia óptica de descarga luminosa
• GISAXS: dispersión de rayos X de ángulo pequeño con incidencia rasante
• GIXD – Difracción de rayos X de incidencia rasante
• GIXR – Reflectividad de rayos X de incidencia rasante
• GLC – Cromatografía gas-líquido

h

• HAADF: imágenes anulares de campo oscuro de alto ángulo
• HAS – Dispersión del átomo de helio
• HPLC: cromatografía líquida de alta resolución
• HREELS: espectroscopia de pérdida de energía de electrones de alta resolución
• HREM – Microscopía electrónica de alta resolución
• HRTEM – Microscopía electrónica de transmisión de alta resolución
• HI-ERDA: análisis de detección de retroceso elástico de iones pesados
• HE-PIXE: emisión de rayos X inducida por protones de alta energía

I

• IAES: espectroscopía de electrones Auger inducida por iones
• IBA – Análisis de haz de iones
• IBIC – Microscopía de carga inducida por haz de iones
• ICP-AES: espectroscopia de emisión atómica de plasma acoplado inductivamente
• ICP-MS: espectrometría de masas con plasma acoplado inductivamente
• inmunofluorescencia
• ICR – Resonancia de ciclotrón de iones
• IETS: espectroscopía de túnel de electrones inelástico
• IGA – Análisis gravimétrico inteligente
• IGF – Fusión de gas inerte
• IIX: análisis de rayos X inducidos por iones, ver emisión de rayos X inducida por partículas
• INS – Espectroscopia de neutralización de iones
• Dispersión inelástica de neutrones
• IRNDT – Ensayos no destructivos de materiales por infrarrojos
• IRS – Espectroscopia infrarroja
• ISS: espectroscopia de dispersión de iones
• ITC – Calorimetría de titulación isotérmica
• IVEM – Microscopía electrónica de voltaje intermedio

l

• LALLS – Dispersión de luz láser de ángulo bajo
• LC-MS – Cromatografía líquida-espectrometría de masas
• LEED – Difracción de electrones de baja energía
• LEEM – Microscopía electrónica de baja energía
• LEIS – Dispersión de iones de baja energía
• LIBS: espectroscopia de ruptura inducida por láser
• LOES – Espectroscopía de emisión óptica láser
• LS – Dispersión de luz (Raman)

METRO

• MALDI – Desorción/ionización láser asistida por matriz
• MBE – Epitaxia de haz molecular
• MEIS – Dispersión de iones de energía media
• MFM – Microscopía de fuerza magnética
• MIT – Tomografía por inducción magnética
• MPM – Microscopía de fluorescencia multifotónica
• MRFM – Microscopía de fuerza por resonancia magnética
• MRI – Imágenes por resonancia magnética
• MS – Espectrometría de masas
• MS/MS – Espectrometría de masas en tándem
• MSGE – Emisión de gases estimulada mecánicamente
• espectroscopia de Mössbauer
• MTA – Análisis microtérmico

norte

• NAA – Análisis de activación de neutrones
• ND – Difracción de neutrones
• NDP: perfilado de profundidad de neutrones
• NEXAFS – Estructura fina de absorción de rayos X cerca del borde
• NIS – Dispersión/absorción inelástica nuclear
• RMN – Espectroscopia de resonancia magnética nuclear
• NOESY – Espectroscopía del efecto Overhauser nuclear
• NRA – Análisis de reacciones nucleares
• NSOM – Microscopía óptica de campo cercano

oh

• OBIC – Corriente inducida por haz óptico
• ODNMR: resonancia magnética detectada ópticamente, consulte ESR o EPR
• OES – Espectroscopia de emisión óptica
• Osmometria

PAG

• PAS – Espectroscopia de aniquilación de positrones
• Espectroscopia fotoacústica
• PAT o PACT – Tomografía fotoacústica o tomografía computarizada fotoacústica
• PAX – Fotoemisión de xenón adsorbido
• PC o PCS – Espectroscopia de fotocorriente
• Contraste microscopico
• Doctorado – Difracción de fotoelectrones
• PD – Fotodesorción
• PDEIS – Espectroscopia de impedancia electroquímica potenciodinámica
• PDS – Espectroscopia de desviación fototérmica
• PED – Difracción de fotoelectrones
• PEELS – espectroscopia de pérdida de energía de electrones paralelos
• PEEM – Microscopía electrónica de fotoemisión (o microscopía de emisión de fotoelectrones)
• PES – Espectroscopía de fotoelectrones
• PINEM: microscopía electrónica de campo cercano inducida por fotones
• PIGE: espectroscopia de rayos gamma inducida por partículas (o protones), ver análisis de reacción nuclear
• PIXE: espectroscopia de rayos X inducida por partículas (o protones)
• PL – Fotoluminiscencia
• Porosimetría
• difracción de polvo
• PTMS – Microespectroscopia fototérmica
• PTS – Espectroscopia fototérmica

q

• QENS: dispersión de neutrones cuasielástica
• QCM-D – Microbalanza de cristal de cuarzo con control de disipación

R

• espectroscopia raman
• RAXRS: dispersión anómala de rayos X resonantes
• RBS: espectrometría de retrodispersión de Rutherford
• REM – Microscopía electrónica de reflexión
• RDS: espectroscopia de diferencia de reflectancia
• RHEED – Reflexión y difracción de electrones de alta energía
• RIMS – Espectrometría de masas por ionización por resonancia
• RIXS – Dispersión de rayos X inelástica resonante
• Espectroscopia RR – Espectroscopia Raman de resonancia

S

• SAD – Difracción de área seleccionada
• SAED: difracción de electrones en áreas seleccionadas
• SAM – Microscopía de barrena de barrido
• SANS: dispersión de neutrones de ángulo pequeño
• SAXS: dispersión de rayos X de ángulo pequeño
• SCANIIR – Composición de superficies mediante análisis de especies neutras y radiación de impacto iónico
• SCEM – Microscopía electrónica confocal de barrido
• SE – Elipsometría espectroscópica
• SEC – Cromatografía de exclusión por tamaño
• SEIRA – Espectroscopía de absorción infrarroja mejorada en superficie
• SEM – Microscopía electrónica de barrido
• SERS: espectroscopía Raman mejorada en superficie
• SERRS: espectroscopía Raman de resonancia mejorada de superficie
• SESANS – Dispersión de neutrones de ángulo pequeño con eco de espín
• SEXAFS – Estructura fina de absorción de rayos X extendida en superficie
• SICM – Microscopía de conductancia iónica de barrido
• SIL – Lente de inmersión sólida
• SIM – Espejo de inmersión sólido
• SIMS – Espectrometría de masas de iones secundarios
• SNMS: espectrometría de masas de especies neutras pulverizadas
• SNOM – Microscopía óptica de barrido de campo cercano
• SPECT – Tomografía computarizada por emisión de fotón único
• SPM – Microscopía de sonda de barrido
• SRM-CE/MS – Espectrometría de masas con electroforesis capilar para monitoreo de reacciones seleccionadas
• SSNMR – Resonancia magnética nuclear de estado sólido
• Espectroscopía rígida
• STED: microscopía de agotamiento de emisiones estimuladas
• STEM – Microscopía electrónica de transmisión de barrido
• STM – Microscopía de efecto túnel
• STS: espectroscopía de túnel de barrido
• SXRD – Difracción de rayos X de superficie

t

• TAT o TACT: tomografía termoacústica o tomografía computarizada termoacústica (ver también tomografía fotoacústica – PAT)
• TEM – Microscopía electrónica de transmisión
• TGA – Análisis termogravimétrico
• TIKA – Transmisión de análisis cinético de iones
• TIMS – Espectrometría de masas por ionización térmica
• TIRFM – Microscopía de fluorescencia de reflexión interna total
• TLS: espectroscopia de lentes fototérmicas, un tipo de espectroscopia fototérmica
• TMA – Análisis termomecánico
• TOF-MS: espectrometría de masas de tiempo de vuelo
• Microscopía de excitación de dos fotones.
• TXRF – Análisis de fluorescencia de rayos X de reflexión total

Ud.

• Espectroscopia de atenuación del ultrasonido.
• UPS: espectroscopía de fotoelectrones UV
• USANS: dispersión de neutrones de ángulo ultrapequeño
• USAXS: dispersión de rayos X de ángulo ultrapequeño
• UT – Pruebas ultrasónicas
• UV-Vis: espectroscopia ultravioleta-visible

V

• VEDIC: microscopía de contraste de interferencia diferencial mejorada con vídeo
• Voltametría

W.

• WAXS – Dispersión de rayos X de gran angular
• WDX o WDS: espectroscopia de rayos X dispersiva de longitud de onda

X

• XAES: espectroscopía de electrones Auger inducida por rayos X
• XANES – XANES , sinónimo de NEXAFS (estructura fina de absorción de rayos X cerca del borde)
• XAS – espectroscopia de absorción de rayos X
• X-CTR: dispersión de varillas de truncamiento de cristales de rayos X
• Cristalografía de rayos X
• XDS: dispersión difusa de rayos X
• XPEEM: microscopía de emisión fotoelectrónica de rayos X
• XPS: espectroscopia de fotoelectrones de rayos X
• XRD – difracción de rayos X
• XRES: dispersión de intercambio resonante de rayos X
• XRF: análisis de fluorescencia de rayos X
• XRR: reflectividad de rayos X
• XRS: dispersión Raman de rayos X
• XSW: técnica de ondas estacionarias de rayos X

Ver también

• Caracterización (ciencia de materiales)

Referencias

• Callister, WD (2000). Ciencia e ingeniería de materiales: introducción . Londres: John Wiley and Sons. ISBN 0-471-32013-7.
• Yao, N, ed. (2007). Sistemas de haz de iones enfocados: conceptos básicos y aplicaciones . Cambridge, Reino Unido: Cambridge University Press. ISBN 978-0-521-83199-4.