Las técnicas de dispersión de rayos X son una familia de técnicas analíticas no destructivas que revelan información sobre la estructura cristalina , la composición química y las propiedades físicas de materiales y películas delgadas. Estas técnicas se basan en observar la intensidad dispersa de un haz de rayos X que incide sobre una muestra en función del ángulo incidente y disperso, la polarización y la longitud de onda o energía.
Tenga en cuenta que la difracción de rayos X ahora se considera a menudo un subconjunto de la dispersión de rayos X, [ ¿quién? ] donde la dispersión es elástica y el objeto que se dispersa es cristalino, de modo que el patrón resultante contiene puntos nítidos analizados mediante cristalografía de rayos X (como en la Figura). Sin embargo, tanto la dispersión como la difracción son fenómenos generales relacionados y la distinción no siempre ha existido. Así, el texto clásico de Guinier [1] de 1963 se titula "Difracción de rayos X en cristales, cristales imperfectos y cuerpos amorfos", por lo que la "difracción" claramente no se limitaba a los cristales en aquella época.
En IXS se monitorean la energía y el ángulo de los rayos X dispersos inelásticamente , generando el factor de estructura dinámica . A partir de esto se pueden obtener muchas propiedades de los materiales, cuya propiedad específica depende de la escala de la transferencia de energía. La siguiente tabla, que enumera las técnicas, está adaptada de. [2] Los rayos X inelásticamente dispersos tienen fases intermedias y, por lo tanto, en principio no son útiles para la cristalografía de rayos X. En la práctica, los rayos X con pequeñas transferencias de energía se incluyen en los puntos de difracción debido a la dispersión elástica, y los rayos X con grandes transferencias de energía contribuyen al ruido de fondo en el patrón de difracción.
