Las técnicas de dispersión de rayos X son una familia de técnicas analíticas no destructivas que revelan información sobre la estructura cristalina , la composición química y las propiedades físicas de los materiales y las películas delgadas. Estas técnicas se basan en la observación de la intensidad dispersa de un haz de rayos X que incide sobre una muestra en función del ángulo de incidencia y dispersión, la polarización y la longitud de onda o energía.
Cabe señalar que la difracción de rayos X a veces se considera un subconjunto de la dispersión de rayos X, donde la dispersión es elástica y el objeto que la dispersa es cristalino, de modo que el patrón resultante contiene puntos nítidos analizados mediante cristalografía de rayos X (como en la Figura). Sin embargo, tanto la dispersión como la difracción son fenómenos generales relacionados y la distinción no siempre ha existido. Por lo tanto , el texto clásico de Guinier [1] de 1963 se titula "Difracción de rayos X en cristales, cristales imperfectos y cuerpos amorfos", por lo que claramente la "difracción" no estaba restringida a los cristales en ese momento.
En IXS se monitorea la energía y el ángulo de los rayos X dispersos inelásticamente , lo que proporciona el factor de estructura dinámica . A partir de esto se pueden obtener muchas propiedades de los materiales, la propiedad específica depende de la escala de la transferencia de energía. La tabla siguiente, que enumera las técnicas, es una adaptación de. [2] Los rayos X dispersos inelásticamente tienen fases intermedias y, por lo tanto, en principio no son útiles para la cristalografía de rayos X. En la práctica, los rayos X con pequeñas transferencias de energía se incluyen con los puntos de difracción debido a la dispersión elástica, y los rayos X con grandes transferencias de energía contribuyen al ruido de fondo en el patrón de difracción.
