Una inclusión de material fundido es una pequeña porción o "mancha" de material fundido que queda atrapada por cristales que crecen [1] en el magma y que finalmente forman rocas ígneas . En muchos aspectos, es análoga a una inclusión de fluido dentro de los sistemas hidrotermales magmáticos. [2] [3] Las inclusiones de material fundido tienden a ser de tamaño microscópico y se pueden analizar para determinar el contenido volátil que se utiliza para interpretar las presiones de atrapamiento del material fundido en profundidad.
Características
Las inclusiones de material fundido son generalmente pequeñas: la mayoría tienen menos de 80 micrómetros de diámetro (un micrómetro es una milésima de milímetro, o aproximadamente 0,00004 pulgadas). [4] Pueden contener varios componentes diferentes, incluido el vidrio (que representa el material fundido que se ha enfriado rápidamente), pequeños cristales y una burbuja separada rica en vapor. [5] Se encuentran en los cristales que se pueden encontrar en rocas ígneas, como por ejemplo cuarzo , feldespato , olivino , piroxeno , nefelina , magnetita , perovskita y apatita . [6] [7] [8] Las inclusiones de material fundido se pueden encontrar tanto en rocas volcánicas como plutónicas . Además, las inclusiones de material fundido pueden contener fases de material fundido inmiscibles (no miscibles) y su estudio es una forma excepcional de encontrar evidencia directa de la presencia de dos o más materiales fundidos en el atrapamiento. [5]
Análisis
Aunque son pequeñas, las inclusiones fundidas pueden proporcionar una gran cantidad de información útil. Mediante observaciones microscópicas y una variedad de técnicas de microanálisis químico, los geoquímicos y petrólogos ígneos pueden obtener una variedad de información única de las inclusiones fundidas. Existen varias técnicas utilizadas para analizar los contenidos de H2O y CO2 de las inclusiones fundidas , los elementos principales, secundarios y traza, incluyendo la microtransmitancia FTIR de doble cara, [9] la microrreflectancia FTIR de una sola cara, [10] la espectroscopia Raman , [11] la microtermometría, [12] la espectroscopia de masas de iones secundarios ( SIMS ), la espectrometría de masas de plasma acoplado inductivamente por ablación láser ( LA-ICPMS ), la microscopía electrónica de barrido ( SEM ) y el análisis de microsonda electrónica ( EMPA ). [13] Si hay una burbuja de vapor presente dentro de la inclusión fundida, se debe tener en cuenta el análisis de la burbuja de vapor al reconstruir el presupuesto volátil total de la inclusión fundida. [14]
Microtermometría
La microtermometría es el proceso de recalentar una inclusión fundida a su temperatura de fusión original y luego enfriarla rápidamente para formar una fase de vidrio homogénea libre de minerales secundarios o burbujas de vapor que pueden haber estado originalmente contenidos dentro de la inclusión fundida. [15]
Platina calefactora de alta temperatura montada en microscopio
El calentamiento por etapas es el proceso de calentar una inclusión fundida en una platina montada en un microscopio y hacer fluir gas helio (placa Vernadsky) [16] [17] o gas argón (Linkam TS1400XY) [18] sobre la platina y luego apagar rápidamente la inclusión fundida después de que haya alcanzado su temperatura de fusión original para formar una fase vítrea homogénea. El uso de una platina de calentamiento permite la observación de fases cambiantes de la inclusión fundida a medida que se recalienta a su temperatura de fusión original. [19]
Hornos verticales de una atmósfera
Este proceso permite recalentar una o más inclusiones fundidas en un horno mantenido a una presión constante de una atmósfera hasta sus temperaturas de fusión originales y luego enfriarlas rápidamente en agua para producir una fase de vidrio homogénea. [20]
Espectroscopia infrarroja por transformada de Fourier (FTIR)
FTIR es un método analítico que utiliza un láser infrarrojo enfocado en un punto de la fase vítrea de la inclusión fundida para determinar un coeficiente de absorción (o extinción) para H 2 O y CO 2 asociado con longitudes de onda para cada especie dependiendo de la litología original que contenía la inclusión fundida. [10] [21]
Espectroscopia Raman
La espectroscopia Raman es similar a la FTIR en el sentido de que utiliza un láser enfocado en la fase vítrea de la inclusión fundida [22] [23] o una burbuja de vapor [24] que puede estar contenida en la inclusión fundida para identificar longitudes de onda asociadas con las bandas vibratorias Raman de volátiles, como H 2 O y CO 2 . La espectroscopia Raman también se puede utilizar para determinar la densidad del CO 2 contenido en una burbuja de vapor si está presente en una concentración suficientemente alta dentro de una inclusión fundida. [11]
Espectrometría de masas de iones secundarios (SIMS)
SIMS se utiliza para determinar concentraciones de elementos volátiles y traza apuntando un haz de iones ( 16 O − o 133 Cs + ) a la inclusión fundida para producir iones secundarios que se pueden medir con un espectrómetro de masas. [25]
Ablación láser-espectrometría de masas con plasma acoplado inductivamente (LA-ICPMS)
LA - ICP-MS puede determinar elementos mayores y traza, sin embargo, con LA-ICPMS, la inclusión fundida y cualquier material que la acompañe se ionizan, destruyendo así la inclusión fundida, y luego se analizan con un espectrómetro de masas. [26] [27]
Microscopía electrónica de barrido (SEM)
La microscopía electrónica de barrido es una herramienta útil para emplear antes de cualquiera de los análisis anteriores que pueden resultar en la pérdida del material original, ya que se puede utilizar para verificar minerales hijos o burbujas de vapor y ayudar a determinar la mejor técnica que se debe elegir para el análisis de inclusión de fundido. [4]
Análisis por microsonda electrónica (EPMA)
El análisis con microsonda electrónica es omnipresente en el análisis de elementos mayores y menores en inclusiones fundidas y proporciona concentraciones de óxido utilizadas para determinar los tipos de magma parental de las inclusiones fundidas y los fenocristales hospedantes. [28]
Microtomografía de rayos X
Las inclusiones fundidas se han obtenido imágenes en tres dimensiones mediante microtomografía de rayos X. [29] Este método se puede utilizar para determinar las dimensiones de las diferentes fases presentes en las inclusiones fundidas con mayor precisión que mediante el uso de microscopía de luz visible.
Interpretación
Concentraciones volátiles
Las inclusiones de material fundido se pueden utilizar para determinar la composición, la evolución compositiva y los componentes volátiles [14] de los magmas que existieron en la historia de los sistemas de magma. Esto se debe a que las inclusiones de material fundido actúan como un pequeño recipiente de presión que aísla y preserva el material fundido ambiental que rodea al cristal antes de que sea modificado por procesos posteriores, como la cristalización posterior al atrapamiento. [4] Dado que las inclusiones de material fundido se forman a presiones (P) y temperaturas (T) variables, también pueden proporcionar información importante sobre las condiciones de atrapamiento (PT) en profundidad y sus contenidos volátiles (H 2 O, CO 2 , S, Cl y F) que impulsan las erupciones volcánicas. [21]
Burbujas de vapor
La presencia de una burbuja de vapor agrega un componente adicional para el análisis dado que la burbuja de vapor podría contener una proporción significativa de H 2 O y CO 2 originalmente en la masa fundida muestreada por la inclusión de masa fundida. [16] [30] Si la burbuja de vapor está compuesta principalmente de CO 2 , se puede utilizar la espectroscopia Raman para determinar la densidad del CO 2 presente. [31] [11]
Concentraciones de elementos mayores, menores y traza
Las concentraciones de elementos mayores y menores generalmente se determinan utilizando EPMA y las composiciones de elementos comunes incluyen Si, Ti, Al, Cr, Fe, Mn, Mg, Ca, Ni, Na, K, P, Cl, F y S. [32] El conocimiento de las concentraciones de óxido relacionadas con estos elementos mayores y menores puede ayudar a determinar la composición del magma parental, la inclusión de material fundido y los fenocristales hospedantes. [28]
Las concentraciones de oligoelementos se pueden medir mediante análisis SIMS con una resolución en algunos casos tan baja como 1 ppm. [33] Los análisis LA-ICPMS también se pueden utilizar para determinar las concentraciones de oligoelementos, sin embargo, una resolución menor en comparación con SIMS no permite la determinación de concentraciones tan bajas como 1 ppm. [5]
Historia
Henry Clifton Sorby , en 1858, fue el primero en documentar inclusiones microscópicas de material fundido en cristales. [34] El estudio de las inclusiones de material fundido ha sido impulsado más recientemente por el desarrollo de sofisticadas técnicas de análisis químico. Los científicos de la ex Unión Soviética lideraron el estudio de las inclusiones de material fundido en las décadas posteriores a la Segunda Guerra Mundial , [35] y desarrollaron métodos para calentar las inclusiones de material fundido bajo un microscopio, de modo que los cambios pudieran observarse directamente. AT Anderson exploró el análisis de inclusiones de material fundido de magmas basálticos del volcán Kilauea en Hawái para determinar las concentraciones volátiles iniciales de magma en profundidad. [36]
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Enlaces externos
La página de inclusiones de material fundido (Jake Lowenstern, USGS)
Inclusiones fluidas y fundidas (Phil Brown, Universidad de Wisconsin-Madison)