50 eV ) todavía se consideran "primarios", mientras que los electrones liberados por los fotoelectrones son "secundarios".
">
Electrones secundarios
Electrones generados como productos de ionización.
Visualización de una avalancha de Townsend , que se sustenta mediante la generación de electrones secundarios en un campo eléctrico.
Los electrones secundarios son electrones generados como productos de ionización . Se denominan "secundarios" porque son generados por otra radiación (la radiación primaria ). Esta radiación puede presentarse en forma de iones , electrones o fotones con una energía suficientemente alta, es decir, que supere el potencial de ionización . Los fotoelectrones pueden considerarse un ejemplo de electrones secundarios donde la radiación primaria son fotones; en algunas discusiones, los fotoelectrones con mayor energía (>50 eV ) todavía se consideran "primarios", mientras que los electrones liberados por los fotoelectrones son "secundarios".
Trayectoria libre media de los electrones de baja energía. Se considera que los electrones secundarios tienen energías inferiores a 50 eV. La tasa de pérdida de energía por dispersión de electrones es muy baja, por lo que la mayoría de los electrones liberados tienen energías que alcanzan un máximo inferior a 5 eV (Seiler, 1983).
Aplicaciones
Los electrones secundarios también son el principal medio para ver imágenes en el microscopio electrónico de barrido (MEB). El alcance de los electrones secundarios depende de la energía. El trazado del recorrido libre medio inelástico en función de la energía suele mostrar características de la "curva universal" [1], familiar para los espectroscopistas electrónicos y los analistas de superficies. Esta distancia es del orden de unos pocos nanómetros en metales y de decenas de nanómetros en aislantes. [2] [3] Esta pequeña distancia permite lograr una resolución tan fina en el MEB.
En el caso del SiO 2 , para una energía de electrones primarios de 100 eV , el rango de electrones secundarios es de hasta 20 nm desde el punto de incidencia. [4] [5]
^ Zangwill, Andrew (1988). Física de superficies . Cambridge Cambridgeshire Nueva York: Cambridge University Press. pág. 21. ISBN 978-0-521-34752-5.OCLC 15855885 .
^ Seiler, H (1983). "Emisión secundaria de electrones en el microscopio electrónico de barrido". Journal of Applied Physics . 54 (11). AIP Publishing: R1–R18. Bibcode :1983JAP....54R...1S. doi :10.1063/1.332840. ISSN 0021-8979.
^ Cazaux, Jacques (15 de enero de 1999). "Algunas consideraciones sobre la emisión secundaria de electrones, δ, de aislantes irradiados con e−". Journal of Applied Physics . 85 (2). AIP Publishing: 1137–1147. doi :10.1063/1.369239. ISSN 0021-8979.
^ Schreiber, E.; Fitting, H.-J. (2002). "Simulación de Monte Carlo de la emisión secundaria de electrones del aislante SiO2". Journal of Electron Spectroscopy and Related Phenomena . 124 (1). Elsevier BV: 25–37. doi :10.1016/s0368-2048(01)00368-1. ISSN 0368-2048.
^ Fitting, H.-J.; Boyde, J.; Reinhardt, J. (16 de enero de 1984). "Método de Montecarlo de emisión de electrones a partir de SiO2". Physica Status Solidi A . 81 (1). Wiley: 323–332. Bibcode :1984PSSAR..81..323F. doi :10.1002/pssa.2210810136. ISSN 0031-8965.
