William J. Atkinson

científico americano

William J. Atkinson (nacido alrededor de 1950), estadounidense, es un científico senior de Boeing Satellite Systems que fue nombrado miembro de la Sociedad Estadounidense de Física en 2011. Experto en electroóptica y endurecimiento de la radiación nuclear y espacial, fue citado por "contribuciones académicas en las áreas de la física nuclear y por aplicaciones sustanciales de la tecnología de la radiación a aplicaciones espaciales en la comunidad aeroespacial". ^[1] En 2011, también fue honrado como miembro asociado del Instituto Americano de Aeronáutica y Astronáutica . ^[2]

IEEE Spectrum informó que Atkinson "desarrolló un software conocido como TSAREME (abreviatura de Total Space and Atmospheric Radiation Effects on Microelectronics) para tener en cuenta los errores inducidos por el impacto de la radiación en las órbitas cercanas a la Tierra y dentro de la atmósfera". ^[3]

Publicaciones Seleccionadas

• Atkinson, William J.; Brezovich, Ivan A. (22 de noviembre de 2006). "Una solución analítica de un emisor gamma esférico". Revista Estadounidense de Física . 74 (12): 1112-1114. Código bibliográfico : 2006AmJPh..74.1112A. doi : 10.1119/1.2348891. ISSN  0002-9505.
• Atkinson, William J.; Seidler, William A. (2007). "Impacto del escalado del dispositivo y la composición del material en las tasas de error leve en los sistemas de aviónica". Actas de 2007 IEEE SoutheastCon . págs. 601–605. doi :10.1109/SECON.2007.342973. ISBN 978-1-4244-1028-6. S2CID  6477109.
• Atkinson, William J. (14 de septiembre de 2007). "Solución analítica para distribuciones de fuentes en braquiterapia para obtener tasas de dosis uniformes en modelos de tumores esféricos". Física en Medicina y Biología . 52 (19): 5871–5879. Código Bib : 2007PMB....52.5871A. doi :10.1088/0031-9155/52/19/009. PMID  17881805. S2CID  1801951.
• Atkinson, William J.; Hansen, David; Sunderland, David A.; Seidler, William A. (2008). "TSAREME, una herramienta integral para evaluar la dureza de la radiación de tecnologías submicrónicas". IEEE SoutheastCon 2008 . págs. 409–414. doi :10.1109/SECON.2008.4494329. ISBN 978-1-4244-1883-1. S2CID  34400265.
• Matzkind, Courtney; Seidler, William A.; Atkinson, William J. (12 de julio de 2009). "Perturbación de la electrónica en órbitas terrestres bajas por plasmas de electrones de alta energía". Revista Internacional Aeroespacial SAE . 4 (1): 8–13. doi :10.4271/2009-01-2339. ISSN  1946-3855.
• Atkinson, William; Seidler, William; Matzkind, Courtney (2010), "Resultados del modelo sobre la dureza de la radiación de la electrónica submicrónica en sistemas aeronáuticos", Días T&E de la Fuerza Aérea de EE. UU. 2010 , Instituto Americano de Aeronáutica y Astronáutica, doi :10.2514/6.2010-1724, ISBN 978-1-60086-965-5, S2CID  110639752 , consultado el 6 de junio de 2020
• Atkinson, William; Colaboración, William J. Atkinson (2015). "Modelos para examinar el impacto de los rayos cósmicos en circuitos integrados". APS . 2015 : L1.037. Código Bib : 2015APS..APR.L1037A.
• Atkinson, William J. (8 de noviembre de 2018). "Impacto de la radiación espacial en los telescopios IR ultrasensibles en órbita". Boletín de la Sociedad Estadounidense de Física . 63 (19). Sociedad Americana de Física.

Referencias

1. "Archivo de miembros de APS". Sociedad Estadounidense de Física . Consultado el 5 de junio de 2020 .
2. "AIAA anuncia becarios asociados" (PDF) . aiaa.org . 2011 . Consultado el 6 de junio de 2011 .
3. Choi, Charles Q. (1 de abril de 2015). "Cuantificación del riesgo de daños a los circuitos integrados en el espacio: las alternativas a los circuitos integrados convencionales pueden reducir significativamente los riesgos espaciales". IEEE Spectrum: noticias sobre tecnología, ingeniería y ciencia . Consultado el 7 de junio de 2020 .