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Crecimiento de Frank-Van der Merwe

Modelo de crecimiento de Frank-Van der Merwe

El crecimiento de Frank-Van der Merwe ( crecimiento FM ) es uno de los tres modos principales por los cuales las películas delgadas crecen epitaxialmente en una superficie o interfaz de cristal. También se conoce como "crecimiento capa por capa". Se considera un modelo de crecimiento ideal, que requiere una correspondencia reticular perfecta entre el sustrato y la capa que crece sobre él, y generalmente se limita a la homoepitaxia. [1] Para que se produzca el crecimiento FM, los átomos que se van a depositar deben sentirse más atraídos hacia el sustrato que entre sí, lo que contrasta con el modelo de crecimiento de capa más isla . [2] El crecimiento FM es el modelo de crecimiento preferido para producir películas lisas. [3]

Fue descrito por primera vez por el físico sudafricano Jan van der Merwe y el físico británico Frederick Charles Frank en una serie de cuatro artículos basados ​​en la investigación de doctorado de Van der Merwe entre 1947 y 1949. [4]

Véase también

Referencias

  1. ^ Cor Claeys; Eddy Simoen (29 de diciembre de 2008). Defectos extendidos en germanio: aspectos fundamentales y tecnológicos. Springer Science & Business Media. pág. 158. ISBN 978-3-540-85614-6.
  2. ^ John Venables (31 de agosto de 2000). Introducción a los procesos de superficie y de película delgada. Cambridge University Press. p. 146. ISBN 978-0-521-78500-6.
  3. ^ Matthias Wuttig; X. Liu (17 de noviembre de 2004). Películas metálicas ultradelgadas: propiedades magnéticas y estructurales. Springer Science & Business Media. pág. 6. ISBN 978-3-540-58359-2.
  4. ^ "Revista de investigación de materiales: volumen 32, número de enfoque: Jan van der Merwe: Epitaxia y la era informática | Cambridge Core". Cambridge Core . Consultado el 24 de enero de 2018 .