El muestreo de aceptación utiliza un muestreo estadístico para determinar si se acepta o rechaza un lote de producción de material. Ha sido una técnica de control de calidad común en la industria.
Generalmente se realiza cuando los productos salen de la fábrica o, en algunos casos, incluso dentro de la fábrica. Lo más frecuente es que un productor le suministre a un consumidor varios artículos y se tome la decisión de aceptarlos o rechazarlos determinando el número de artículos defectuosos en una muestra del lote. El lote se acepta si el número de defectos es inferior al número de aceptación o, de lo contrario, se rechaza el lote. [1]
En general, se emplea el muestreo de aceptación cuando se cumple una o varias de las siguientes condiciones: [2]
Existe una amplia variedad de planes de muestreo de aceptación . Por ejemplo, los planes de muestreo múltiple utilizan más de dos muestras para llegar a una conclusión. Un período de examen más corto y tamaños de muestra más pequeños son características de este tipo de plan. Aunque las muestras se toman al azar, el procedimiento de muestreo sigue siendo confiable. [3]
Los procedimientos de muestreo de aceptación se volvieron comunes durante la Segunda Guerra Mundial. Los planes de muestreo, como el MIL-STD-105 , fueron desarrollados por Harold F. Dodge y otros y se utilizaron con frecuencia como estándares .
Más recientemente, el control de calidad amplió su alcance más allá de la inspección final para incluir todos los aspectos de la fabricación. Los sistemas de gestión de calidad más amplios incluyen metodologías como el control estadístico de procesos , HACCP , Six Sigma e ISO 9000. Todavía se sigue utilizando el muestreo de aceptación.
El muestreo proporciona un medio racional de verificación de que un lote de producción cumple con los requisitos de las especificaciones técnicas . Una inspección del 100 % no garantiza el 100 % de cumplimiento y es demasiado costosa y requiere mucho tiempo. En lugar de evaluar todos los elementos, se toma una muestra específica, se inspecciona o se prueba y se toma una decisión sobre la aceptación o el rechazo de todo el lote de producción.
Los planes tienen riesgos conocidos: un límite de calidad aceptable (AQL) y un nivel de calidad rechazable, como el porcentaje de tolerancia de lote defectuoso (LTDP), son parte de la curva característica operativa del plan de muestreo. Estos son principalmente riesgos estadísticos y no implican necesariamente que se esté fabricando o aceptando intencionalmente un producto defectuoso. Los planes pueden tener un límite de calidad promedio de salida (AOQL) conocido.
Un plan de muestreo único para atributos es un método estadístico por el cual el lote se acepta o se rechaza sobre la base de una muestra. [4] Supongamos que tenemos un lote de tamaños ; se selecciona una muestra aleatoria de tamaño del lote; y se determina un número de aceptación. Si se encuentra que el número de no conformes es menor o igual a , se acepta el lote; y si el número de no conformes es mayor que , no se acepta el lote. El diseño de un plan de muestreo único requiere la selección del tamaño de la muestra y el número de aceptación .
La norma MIL-STD-105 era una norma de defensa de los Estados Unidos que proporcionaba procedimientos y tablas para el muestreo por atributos (características de aprobación o rechazo). La norma MIL-STD-105E se canceló en 1995, pero está disponible en documentos relacionados, como ANSI/ASQ Z1.4, "Procedimientos de muestreo y tablas para la inspección por atributos". Se proporcionan varios niveles de inspección y se pueden indexar a varios NCA. Se especifica el tamaño de la muestra y se proporciona la base para la aceptación o el rechazo (número de defectos). La norma MIL-STD-1916 es actualmente el método de muestreo preferido para todos los contratos del Departamento de Defensa (DoD).
Cuando una característica medida produce un número, se suelen utilizar otros planes de muestreo, como los basados en la norma MIL-STD-414. En comparación con los planes de muestreo por atributos, estos suelen utilizar un tamaño de muestra más pequeño para el mismo NCA indexado.
