Microscopista británico
Angus Ian Kirkland FInstP FRSC FRMS (nacido en agosto de 1965) [2] [ se necesita una fuente no primaria ] es profesor de Microscopía Electrónica JEOL en el Departamento de Materiales de la Universidad de Oxford . [3] El profesor Kirkland se especializa en microscopía electrónica de transmisión de alta resolución y microscopía electrónica de transmisión de barrido . [4] [5]
Vida temprana y educación
Kirkland completó una Maestría en Ciencias Naturales y un Doctorado en Filosofía en la Universidad de Cambridge en 1989. [6] [7]
Investigación y carrera
Kirkland continuó en el Laboratorio Cavendish como investigador postdoctoral hasta convertirse en investigador asociado sénior. Más tarde fue elegido investigador asociado del Ramsay Memorial Trust.
Luego se trasladó al Departamento de Materiales de la Universidad de Oxford , donde ha dirigido el Grupo de Análisis de Imágenes Electrónicas de Oxford desde 2003. [8] [9] Fue nombrado profesor en 2005 y se convirtió en profesor de Microscopía Electrónica de JEOL en 2011. [3] [9] Fue codirector del Centro David Cockayne de la Universidad de Oxford. [10] [9]
La investigación de Kirkland se centra en el desarrollo de nuevas técnicas cuantitativas para la microscopía electrónica de ultra alta resolución y nuevos detectores de imágenes. Su investigación también incluye el desarrollo de análisis y simulación. [11] [12] Investiga la estructura y las superficies de los óxidos inorgánicos de nanomateriales. El desarrollo de nuevos detectores, por ejemplo, el microscopio de transmisión con corrección de aberración electrónica . [13] [7] [14] Angus Kirkland tiene una carrera ilustre con publicaciones en Nature [15] [16] [14] y Science . [17] [18] Lideró colaboraciones y subvenciones valoradas en millones de libras esterlinas. [19] [20]
A partir de noviembre de 2022, es el director científico del Instituto Rosalind Franklin [7] [21] y del Centro de Imágenes de Ciencias Físicas Electrónicas (ePSIC) en Diamond Light Source . [6] También es el editor en jefe de Ultramicroscopy . [22]
Premios y honores
Kirkland es miembro del Instituto de Física ( FInstP ), la Real Sociedad de Química ( FRSC ) y la Real Sociedad Microscópica ( FRMS ). [6] [7]
Kirkland recibió el premio de la Sociedad de Microscopía de Estados Unidos al mejor artículo publicado (2005). [23] En 2015, recibió el premio Harald Rose Distinguished Lecture Prize. [24] También recibió la medalla RMS Alan Agar en 2017. [25] [26]
En 2012, Kirkland fue nombrado profesor honorario en el centro de HRTEM , Universidad Nelson Mandela , Sudáfrica. [6] [27]
Publicaciones seleccionadas
- Huilong Fei, Juncai Dong, Yexin Feng, Christopher S. Allen, Chengzhang Wan, Boris Volosskiy, Mufan Li, Zipeng Zhao, Yiliu Wang, Hongtao Sun, Pengfei An, Wenxing Chen, Zhiying Guo, Chain Lee, Dongliang Chen, Imran Shakir, Mingjie Liu, Tiandou Hu, Yadong Li, Angus I. Kirkland , Xiangfeng Duan, Yu Huang (2018-01). Síntesis general e identificación estructural definitiva de catalizadores de un solo átomo MN4C4 con actividades electrocatalíticas sintonizables. Catálisis de la naturaleza . 1 (1): 63–72. doi :10.1038/s41929-017-0008-y. ISSN 2520-1158.
- Alex W. Robertson, Christopher S. Allen, Yimin A. Wu, Kuang He, Jaco Olivier, Jan Neethling, Angus I. Kirkland, Jamie H. Warner (23 de octubre de 2012). Control espacial de la creación de defectos en grafeno a escala nanométrica. Nature Communications . 3 (1): 1144. doi :10.1038/ncomms2141. ISSN 2041-1723.
- Lele Peng, Ziyang Wei, Chengzhang Wan, Jing Li, Zhuo Chen, Dan Zhu, Daniel Baumann, Haotian Liu, Christopher S. Allen, Xiang Xu, Angus I. Kirkland , Imran Shakir, Zeyad Almutairi, Sarah Tolbert, Bruce Dunn, Yu Huang, Philippe Sautet, Xiangfeng Duan (2020-09). Una mirada fundamental a la reacción electrocatalítica de reducción de azufre. Catálisis de la naturaleza . 3 (9): 762–770. doi :10.1038/s41929-020-0498-x. ISSN 2520-1158.
- Meyer, Rüdiger R.; Sloan, Jeremy; Dunin-Borkowski, Rafal E.; Kirkland, Angus I .; Novotny, Miles C.; Bailey, Sam R.; Hutchison, John L.; Green, Malcolm LH (25 de agosto de 2000). Imágenes atómicas discretas de cristales unidimensionales formados dentro de nanotubos de carbono de pared simple. Science . 289 (5483): 1324–1326. doi :10.1126/science.289.5483.1324. ISSN 0036-8075.
- Warner, Jamie H.; Margen, Elena Roxana; Mukai, Masaki; Robertson, Alejandro W.; Giustino, Feliciano; Kirkland, Angus I. (13 de julio de 2012). Deformaciones impulsadas por dislocaciones en grafeno. Ciencia . 337 (6091): 209–212. doi : 10.1126/ciencia.1217529. ISSN 0036-8075.
Referencias
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- ^ Fei, Huilong; Dong, Juncai; Feng, Yexin; Allen, Christopher S.; Wan, Chengzhang; Volosskiy, Boris; Li, Mufan; Zhao, Zipeng; Wang, Yiliu; Sol, Hongtao; An, Pengfei; Chen, Wenxing; Guo, Zhiying; Lee, cadena; Chen, Dongliang (enero de 2018). "Síntesis general e identificación estructural definitiva de catalizadores de un solo átomo MN4C4 con actividades electrocatalíticas sintonizables". Catálisis de la naturaleza . 1 (1): 63–72. doi :10.1038/s41929-017-0008-y. ISSN 2520-1158. S2CID 103450647.
- ^ Robertson, Alex W.; Allen, Christopher S.; Wu, Yimin A.; He, Kuang; Olivier, Jaco; Neethling, Jan; Kirkland, Angus I.; Warner, Jamie H. (23 de octubre de 2012). "Control espacial de la creación de defectos en grafeno a escala nanométrica". Nature Communications . 3 (1): 1144. Bibcode :2012NatCo...3.1144R. doi : 10.1038/ncomms2141 . ISSN 2041-1723. PMID 23093181.
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- ^ "INSTANTÁNEA DE VISITANTE: El profesor Angus Kirkland (Universidad de Oxford, Reino Unido) y el profesor Peter van Aken (Instituto Max Planck, Alemania), ambos profesores honorarios de la Universidad Nelson Mandela, visitaron el Centro de HRTEM para una serie de conferencias especializadas". Twitter . Consultado el 13 de noviembre de 2022 .